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Instruments

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紫外-可視-近紅外光光譜儀
*儀器管理人:邱雅雯同學  3366-5070

壹、儀器設備 (有3台)
一、規格型號:
(一) UV Hitachi U-4100
1. 分光器:向差補正式稜鏡-劃柵雙分光器 
   (a)預分光器:Littrow Type稜鏡分光器 2. 主分光器:繞射格子光柵分光器(2繞射光柵)Czerny-Turner Mount 
2. 波長範圍:240 to 2600 nm。 
3. 檢知器:光電倍增管(UV/Vis)、恆溫冷卻式Pbs(NIR),60mm直徑積分球硫酸鋇鍍膜。 
4. 樣品室:內部尺寸480W×470D×200H mm(Standard type);680W×470D×300H mm(Large type )
5. 波長最小刻劃:0.01 nm。 
6. 光譜帶寬之選擇與顯示UV/Nis:固定式或自動選擇。 
7. 波長精確度:NIR/Vis:±0.2nm;NIR:±1.0nm;附自動波長校正功能。 
8. 波長掃瞄速度:0.3(0.75)、3(7.5)、15(37.5)、30(75)、60(150)、 120(300)、300(750)、600(1500)、1200(3000)、2400(6000)nm/min。()內之值為在NIR區。 
9. 燈源改變範圍:325至370可自動選擇。 
10. 測光系統:雙光束直接比率測光系統(日立公司唯一採用之Feedback系統)。UV/Vis:負電壓及自動轉換 ; Slit NIR:自動轉換Slit及固定式Slit。 
11. 測光型式:吸光度(ABS)、穿透率(%T)、反射率(%R),Energy on reference side 【E(R)】/sample side【E(S)】。附件:1.玻璃樣品專用治具。 2.液態樣品專用治具。

(二) 8453 UV-Visible Diode Array Spectrophotometer 
1. 光束系統:開放式單光束源。
2. 光學系統:Photo Diode Array。
3. 光源:雙燈源 (Tungsten and Deuterium Lamp)。
4. 樣品室:開放式無蓋。
5. 波長範圍:190 to 1100 nm。
6. 狹縫波長寬度:< 1 nm。
7. EP測試標準:>1.6 (Toluene in hexane, ration abs. At 269 nm/266 nm。
8. Stray 光:< 0.03% . At 340 nm。
9. 波長準確度:< ±0.5nm,0.5 Second Scan(NIST 2034)
10. < ±0.2nm,at 486.0 & 656.1 nm。
11. 波長重覆性:< ±0.02nm,ten consecutive scans(NIST2034)。
12. 全波長掃瞄時間:0.1秒。
13. 基線平移:< 0.001 A。
14. 光列穩定度:< 0.001 A/h。
15. 光列雜訊:< 0.0002 A, Sixty 0.5 second scan at 0 A, 500 nm。
16. 操作溫度:0 ℃ - 50o℃。
17. 操作軟體:採用LAN網路聯線控制光譜儀所有的參數。
18. Kinetics操作:Bio-chemical Analysis 及Multi-cell控制功能。
19. 光譜儀尺寸:> 200*360*580mm(高*寬*深)。

(三)Vasco V650
1. 光學系統:Double beam, single monochromator
2. 光源:雙光源 (Deuterium lamp:190~350 nm;Halogen lamp:330~350 nm)
3. 光源轉換波長:使用者可選擇330~350 nm範圍
4. 偵測器:Photomultiplier tube
5. 波長範圍:190~900 nm
6. 波長準確度:±0.2 nm (光譜帶寬 0.5 nm;波長 656.1 nm;常溫)
7. 波長重複性:±0.05 nm
8. 光譜帶寬:0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10 nm;L2, L5, L10 nm (low stray-light mode);M1, M2 nm (micro-cell mode)
9. 線性範圍:0~10000 %T;-2~4 Abs
10. 吸光度準確性:±0.002 Abs (0~0.5 Abs);±0.003 Abs (0.5~1 Abs);±0.3 %T (NIST SRM 930D)
11. 吸光度重複性:±0.001 Abs (0~0.5 Abs);±0.001 Abs (0.5~1 Abs)
12. 雜散光:1 % (198 nm KCl 12 g/L aqueous solution) 0.005 % (220 nm NaI 10 g/L aqueous solution;340 nm & 370 nm NaNO2 50 g/L aqueous solution)
13. 基線穩定度:±0.0003 Abs/hr
14. 基線平整度:±0.0003 Abs
15. 雜訊值:0.00003 Abs (0 Abs;波長:500 nm;測量時間:60 sec;譜寬:2 nm)
16. 光譜儀尺寸:460L×602W×270H mm

二、預約辦法:
預約請洽管理者 (r06549001@ntu.edu.tw)

三、操作辦法:
(1) 若實驗室未有操作合格者,請派一位同學與儀器管理者學習操作流程,並取得合格操作資格。
(2)凡操作者須經由儀器管理者認定核可,取得操作資格,得以自行上機操作。
(3)未有操作資格者,須由各實驗室已取得合格操作者陪同操作,經上機練習5 時段(每時段約2小時)後,與儀器管理者申請操作資格,經核可取得操作資格,得以自行上機操作。

四、計費方式:所上人員:150元/1hr;校內非所上人員:550元/1hr。

貳、使用資格
高分子所教授所指導的學生,經訓練與檢定考試通過之後,才能夠自行操作儀器。
操作辦法:
(1)若實驗室未有操作合格者,請派ㄧ位同學與儀器管理者學習操作流程,並取得合格操作資格。
(2) 凡操作者須經由儀器管理者認定核可,取得操作資格,得以自行上機操作 
(3)未有操作資格者,須由各實驗室已取得合格操作者陪同操作,經上機練習, 與儀器管理者申請操作資格,經核可取得操作資格,得以自行上機操作。

*儀器放置地點:台灣大學高分子科學與工程學研究所地下室102室 
*若您需要預約使用儀器,請以電話或E-mail預約,謝謝。
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